マイクロX線光電子分光装置(μ-XPS)
試料にX線を照射し、深さ数nmの極表面から発生する光電子エネルギーを検出することで、極表面の元素分析を行う。
| 利用状況 | 依頼試験のみ |
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| 対応分野 |
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| 使用目的 |
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| メーカー | アルバック・ファイ(株) |
| 型式・番号 | Quantum 2000 |
| 導入年度 | 2004年度 |
| ポイント・仕様 |
最小分析面積10μmφ 半球静電型 光学顕微鏡 データ処理装置 |
| 用途 | 各種材料表面及び薄膜の元素分析並びに元素間の結合状態分析。 |
| 活用事例 | |
| 利用上の注意 | |
| 使用料(県内)円/時間 | |
| 使用料(県外)円/時間 | |
| 設置場所(所属名) | 産業技術研究開発センター |
| 担当機関 | 機械電子研究所 |
| 郵便番号 | 〒930-0866 |
| 所在地 | 富山県富山市高田383番地 |
| TEL | 076-433-5466 |
| FAX | 076-433-5472 |
| 備考 |