高分解能走査型電子顕微鏡
試料表面に電子線を照射し、試料から発生する2次電子等を検出して高分解能な表面形態観察を行う。
| 利用状況 | 依頼試験のみ |
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| 対応分野 |
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| 使用目的 |
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| メーカー | 日本電子(株) |
| 型式・番号 | JSM-6301F |
| 導入年度 | 1993年度 |
| ポイント・仕様 |
倍率:20倍~300,000倍 元素分析:B~U |
| 用途 | 各種材料の拡大形態観察 |
| 活用事例 | |
| 利用上の注意 | |
| 使用料(県内)円/時間 | |
| 使用料(県外)円/時間 | |
| 設置場所(所属名) | 産業技術研究開発センター |
| 担当機関 | 機械電子研究所 |
| 郵便番号 | 〒930-0866 |
| 所在地 | 富山県富山市高田383番地 |
| TEL | 076-433-5466 |
| FAX | 076-433-5472 |
| 備考 |