設備機器 詳細

電界放出形走査電子顕微鏡

細く絞った電子線を試料表面に照射・走査し、発生する信号を検出して、微細構造の観察や元素組成分析、および結晶方位解析を行う装置です。
サーマルショットキー電界放出形電子銃を使用しており、幅広い材料についてナノオーダーで表面観察することが可能であり、また大照射電流により分析にも適しています。

設備機器概要
利用状況 設備利用・予約可
対応分野
  • 化学
使用目的
  • 分析・評価
  • 観察・精密計測
メーカー 日本電子(株)
型式・番号 JSM-7001FTTLS
導入年度 2010年度
ポイント・仕様 ・電子銃 サーマルショットキー電界放出形電子銃
・倍率 10倍~1,000,000倍
・加速電圧 0.1kV~30kV
・照射電流 1pA~200nA
・分析機能 元素組成分析(EDS),結晶方位解析(EBSD)
EDS/EBSD同時測定可能
用途 ・二次電子像による表面構造の観察
例)10万倍以上の高倍率での観察,照射エネルギーを制御した最表面の微細構造や絶縁体試料の観察など
・反射電子像による組成分布の観察
・ナノ領域の元素組成分析
・金属やセラミックスの結晶方位解析
活用事例
利用上の注意
使用料(県内)円/時間 6640
使用料(県外)円/時間 9960
設置場所(所属名) 産業技術研究開発センター
担当機関 ものづくり研究開発センター
郵便番号 〒933-0981
所在地 富山県高岡市二上町150
TEL 0766-21-2121
FAX 0766-21-2402
備考 本設備は、独立行政法人 科学技術振興機構(JST)地域産学官共同研究拠点整備事業で導入しました。