MONOZUKURI 設備機器 検索結果一覧
339件の設備機器を表示
- 表示件数
-
カラーレーザー顕微鏡
オリンパス(株)
レーザーを光源として試料の微細な表面形状を観察することができる顕微鏡で、画像解析ソフトウエアによってサブミクロン単位の計測・解析が可能です。特に、カラー観察像で観察位置を特定しながら計測・解析を行うことができる仕様になっています。
ガスクロマトグラフ質量分析計
サーモフィッシャーサイエンティフィク(株)
揮発性のある有機化合物の混合物を分離するガスクロマトグラフと、有機化合物の質量数を測定する質量分析計を直結した分析装置であり、有機混合物の定性分析、構造解析、組成分析、定量分析ができます。
オージェ電子分光分析装置
日本電子(株)
試料表面に電子ビームを照射し、試料の極表面より出てきたオージェ電子を検出することで、微小かつ表面から極めて浅い領域に存在する元素の定性・定量分析および元素の面内分布・深さ方向分布を測定することができます。
ウェットSEM
日本電子(株)
試料表面に電子線を照射して、試料から発生する二次電子や反射電子、特性X線を検出することにより、表面形態観察や元素分析を行うことができます。
特に、導電性のない繊維やプラスチック、異物等についても、真空蒸着等の前処理を省いて観察することができる仕様になっています。
X線回折装置
(株)リガク
物質にX線を照射し、その回折パターンから結晶情報を得ることができ、化合物の特定をすることができます。
高出力のX線源を備え、また試料水平型ゴニオメータであることから、粉体や液体の測定が可能です。
アニール装置
X線回折測定装置
(株)リガク
試料にX線を照射し、試料からの回折X線を1次元・2次元検出器により検出し、得られた回折パターンから化合物の同定や結晶構造、配向性、残留応力、極点図形、粒子径についての解析をすることができます。
X線マイクロアナライザー
日本電子(株)
電子線を試料に照射してSEM像を観察するとともに、発生する特性X線を検出して微小領域での元素分析、マッピング(二次元的な分布の分析)を行う装置である。波長分散型X線分光器を備え、微量元素の高感度分析が可能である。
UV表面加工装置
サンエナジー(株)
本装置では、高エネルギーの紫外線を照射することができ、それにより表面の改質を行います。紫外線はアクリルモノマーなどを重合させることができるため、種々の素材表面にポリマー分子を生やしたり表面樹脂層を形成したりできます。また空気存在下で紫外線照射することにより、ポリマー表面を直接酸化することができ、それにより水酸基などの極性基を表面に生成させることが可能です。