設備機器 検索結果一覧
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カラーレーザー顕微鏡
オリンパス(株)
レーザーを光源として試料の微細な表面形状を観察することができる顕微鏡で、画像解析ソフトウエアによってサブミクロン単位の計測・解析が可能です。特に、カラー観察像で観察位置を特定しながら計測・解析を行うことができる仕様になっています。
ガスクロマトグラフ質量分析計
サーモフィッシャーサイエンティフィク(株)
揮発性のある有機化合物の混合物を分離するガスクロマトグラフと、有機化合物の質量数を測定する質量分析計を直結した分析装置であり、有機混合物の定性分析、構造解析、組成分析、定量分析ができます。
オージェ電子分光分析装置
日本電子(株)
試料表面に電子ビームを照射し、試料の極表面より出てきたオージェ電子を検出することで、微小かつ表面から極めて浅い領域に存在する元素の定性・定量分析および元素の面内分布・深さ方向分布を測定することができます。
ウェットSEM
日本電子(株)
試料表面に電子線を照射して、試料から発生する二次電子や反射電子、特性X線を検出することにより、表面形態観察や元素分析を行うことができます。
特に、導電性のない繊維やプラスチック、異物等についても、真空蒸着等の前処理を省いて観察することができる仕様になっています。
X線回折装置
(株)リガク
物質にX線を照射し、その回折パターンから結晶情報を得ることができ、化合物の特定をすることができます。
高出力のX線源を備え、また試料水平型ゴニオメータであることから、粉体や液体の測定が可能です。